精密lcr測(cè)試儀測(cè)量誤差的分析與處理方法
點(diǎn)擊次數(shù):1279 更新時(shí)間:2022-09-15
精密lcr測(cè)試儀可以測(cè)量元件的電阻、電容、電感等參數(shù),可以用于元器件的出、入廠檢驗(yàn)。測(cè)量信號(hào)頻率為75kHz~30MHz。阻抗測(cè)量基本準(zhǔn)確度0.1%。它由一臺(tái)主機(jī)和若干夾具組成,配上大電流源后還可以進(jìn)行電感的偏置電流特性測(cè)試。頻率合成技術(shù)和高穩(wěn)定時(shí)鐘源以保證所產(chǎn)生信號(hào)的準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性。由頻率合成源輸出的信號(hào)加在輸入單元上,被測(cè)件置于輸入單元的輸入口。由輸入單元送出的兩路電壓信號(hào)V,和V,(它們含有被測(cè)件的幅度和相位信息)分別經(jīng)程控放大后,送入鑒相器進(jìn)行幅度和相位檢測(cè),經(jīng)A/D變換器送入CPU并進(jìn)行校準(zhǔn)、補(bǔ)償、阻抗變換等處理,給出被測(cè)件的各個(gè)參數(shù)值。
精密lcr測(cè)試儀測(cè)量誤差的分析與處理:
(1)隨機(jī)誤差:多周期數(shù)據(jù)處理每通道每次采集1K個(gè)點(diǎn)的數(shù)據(jù)(取10個(gè)周期),每次10個(gè)周期的數(shù)據(jù)一起處理,這樣等效于連續(xù)測(cè)量10次,然后取平均值作為測(cè)試結(jié)果。
(2)系統(tǒng)偏移的校正:
偏移量主要是由有源器件零漂和地阻抗引起的,其結(jié)果是在待測(cè)交流信號(hào)上疊加了直流分量。由于在整周期上,交流正弦信號(hào)的加權(quán)平均值是零,所以,將采集后的數(shù)據(jù)進(jìn)行加權(quán)平均處理,其結(jié)果就是直流分量。將采集的數(shù)據(jù)減去這個(gè)直流分量再做數(shù)據(jù)處理,可以提高測(cè)量精度。
(3)開(kāi)路校準(zhǔn)和短路校準(zhǔn):
LCR測(cè)量?jī)x器的測(cè)量端、測(cè)量饋線以及測(cè)量夾具總是存在殘余阻抗和殘余導(dǎo)納,這些殘余量對(duì)小電容、小電感或大電阻的測(cè)量會(huì)造成較大的誤差。引入自動(dòng)的開(kāi)路校準(zhǔn)與短路校準(zhǔn):先通過(guò)理論分析建立系統(tǒng)的誤差模型,求出誤差修正公式,然后,通過(guò)簡(jiǎn)單的“開(kāi)路”,“短路”等校準(zhǔn)技術(shù)記錄誤差因子,程序利用修正公式和誤差因子自動(dòng)計(jì)算修正結(jié)果。